Modeling of integrated circuit yield loss mechanisms

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

Modeling of Integrated Circuit Defect

Until now only cursory descriptions of mathematical models for defect sensitivities of integrated circuit chips have been given in the yield literature. This paper treats the fundamentals of the defect models that have been used successfully at IBM for a period of more thanjifteen years. The effects of very small defects are discussedjirst. The case of photolithographic defects, which are of th...

متن کامل

modeling loss data by phase-type distribution

بیمه گران همیشه بابت خسارات بیمه نامه های تحت پوشش خود نگران بوده و روش هایی را جستجو می کنند که بتوانند داده های خسارات گذشته را با هدف اتخاذ یک تصمیم بهینه مدل بندی نمایند. در این پژوهش توزیع های فیزتایپ در مدل بندی داده های خسارات معرفی شده که شامل استنباط آماری مربوطه و استفاده از الگوریتم em در برآورد پارامترهای توزیع است. در پایان امکان استفاده از این توزیع در مدل بندی داده های گروه بندی ...

Molecular Mechanisms of Recurrent Pregnancy Loss

Introduction: Pregnancy and health is the process in which the egg is fertilized and being able to survive. When pregnancy occurs under some conditions and the fetus is being at risk, it will lead to abortion that occurs involuntarily and spontaneously. Abortions that occur more than two or three times are called recurrent pregnancy loss (RPL). Various etiological factors involved in RPL, inclu...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

سال: 1996

ISSN: 0894-6507

DOI: 10.1109/66.492821